浅谈 Gate Oxide Integrity(GOI) 2025 年 7 月 3 日 作者 LSTK 本文始于2025年5月,浅谈栅氧完整性失效机制,旨在让读者基本了解 GOI 是什么,对设计有哪些影响,以及介绍 … 阅读更多